SMART Modular Technologies เปิดตัวแฟลชไดรฟ์หน่วยความจำพร้อมระบบการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว

SMART Modular Technologies เปิดตัวแฟลชไดรฟ์หน่วยความจำพร้อมระบบการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) สำหรับแอปพลิเคชันใช้งานจากระยะไกล

เทคโนโลยีการลดปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) จะช่วยให้สามารถลดต้นทุนการบริการได้เป็นอย่างมากในแอปพลิเคชันเครือข่าย โทรคมนาคม และเอดจ์เซิร์ฟเวอร์ที่มีความต้องการสูง

กลุ่มผลิตภัณฑ์ MP3000 PCIe/NVMe และ ME2 SATA ของ SMART รวมถึงเทคโนโลยีการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) เพื่อปกป้องระบบเกิดความล้มเหลวในการดำเนินการ

NEWARK, Calif.--(BUSINESS WIRE)-17 ก.ย. 24 --SMART Modular Technologies, Inc. (“SMART”) ซึ่งเป็นภาคส่วนใน SGH (Nasdaq: SGH) และเป็นผู้นำระดับโลกในด้านโซลูชันหน่วยความจำ โซลิดสเตตไดรฟ์ และหน่วยความจำขั้นสูง ประกาศเปิดตัวเทคโนโลยีที่เป็นเอกสิทธิ์เพื่อการลดผลกระทบด้านลบสำหรับเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) ในระบบที่ใช้หน่วยความจำแฟลชที่ต้องการความน่าเชื่อถือสูง ผลิตภัณฑ์ MP3000 NVMe SSD ของ SMART Modular พร้อมระบบการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) จะช่วยลดอัตราความล้มเหลวต่อปีที่สูงถึง 17.5k/Mu (ล้านหน่วย) ลงเหลือน้อยกว่า 10/Mu และสามารถประหยัดต้นทุนการบริการที่อาจเกิดขึ้นได้หลายแสนเหรียญสหรัฐ โดยการรับประกันเวลาใช้งานโดยไม่มีการหยุดชะงักได้หลายร้อยชั่วโมง โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับการปรับใช้งานแบบระยะไกลที่ยากในการซ่อมแซม

“ไดรฟ์บูต SATA และ PCIe ซึ่งเป็นมาตรฐานอุตสาหกรรมของเราสามารถช่วยลดอัตราความล้มเหลวต่อไปได้สูงถึง 99.7% โดยการกู้คืนข้อมูลจากข้อผิดพลาดเล็กน้อยเนื่องจากเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว” Satya Iyer รองประธานฝ่ายหน่วยความจำพิเศษของ SMART กล่าว “ในแอปพลิเคชันเครือข่ายและโทรคมนาคมในสถานที่ห่างไกลและยากในการเข้าถึงบริการ การแก้ไขปัญหาสำหรับเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) และความสามารถในการกู้คืนข้อมูลจากข้อผิดพลาดเล็กน้อยสามารถสร้างความแตกต่างสำหรับระบบที่มีความต้องการสูงและต้องพร้อมใช้งานตลอดเวลา 24/7 ทุกวัน”

SEU เป็นการเปลี่ยนแปลง “สถานะบิต” ที่เกิดขึ้นในระบบดิจิทัล เมื่อนิวตรอนพลังงานสูง หรืออนุภาคอัลฟ่า เข้าโจมตีแบบสุ่มและทำให้บิตในหน่วยความจำ ซึ่งเป็นส่วนประกอบทางตระกะ พลิกเปลี่ยนสถานะ โดยอนุภาคพลังงานสูงเหล่านี้สามารถก่อกำเนิดจากพื้นดินหรือนอกโลก เช่น รังสีคอสมิก SEU สามารถนำไปสู่การทำงานที่ผิดปกติของระบบดิจิทัลหรือทำให้ระบบทั้งหมดล้มเหลว ความสามารถในการจัดการกับข้อผิดพลาดหรือความขัดข้องเหล่านี้ภายใน SSD จะช่วยให้สามารถกู้คืนข้อมูลได้โดยไม่จำเป็นค้องรีบูตทั้งระบบ ซึ่งมีความสำคัญอย่างยิ่งสำหรับการดำเนินงานที่จะต้องดำเนินการอย่างต่อเนื่องโดยไม่มีการหยุดชะงัก

เทคโนโลยีการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียว (SEU) นั้นเหนือกว่าโซลูชันอื่นๆ ที่ ECC สำหรับ SRAM ภายใน ด้วยความสามารถในการรีบูตตัวเองโดยไม่ต้องรีบูตระบบโฮสต์ SSD ยังสามารถรับมือกับบิตที่เปลี่ยนแปลงในส่วนประกอบอื่นๆ ภายใน SSD ซึ่งอาจเป็นสาเหตุหลักทำให้เกิดความล้มเหลวได้เพิ่มเติม 10% โดยระบบนี้ได้รับการออกแบบมาสำหรับแอปพลิเคชันที่ต้องการเวลาพร้อมใช้งานสูงสุด ไดร์ฟบูตพร้อมการแก้ไขปัญหาเหตุการณ์ไม่คาดฝันที่เกิดขึ้นครั้งเดียวเหล่านี้มาพร้อมความจุในการจัดเก็บข้อมูลตั้งแต่ 60GB ถึง 1.92TB และมีพร้อมจำหน่ายในเกรดอุณหภูมิเชิงพาณิชย์และอุตสาหกรรม

ไดร์ฟ ME2 SATA M.2 และ mSATA พร้อมการแก้ไขปัญหา SEU มาพร้อมความจุในการจัดเก็บข้อมูลขนาด 60GB ถึง 1.92TB และพร้อมจำหน่ายในเกรดเชิงพาณิชย์ (อุณหภูมิการทำงาน: 0 ถึง 70°C) และเกรดอุตสาหกรรม (อุณหภูมิการทำงาน: -40 ถึง 85°C) M.2 2280 ยังรองรับการป้องกันข้อมูลสูญเสียพลังงาน SafeDATA™

ไดรฟ์ MP3000 NVMe PCIe พร้อมการแก้ไขปัญหา SEU มาพร้อมความจุในการจัดเก็บข้อมูลขนาด 80GB ถึง 1.92TB ในรุ่นแฟคเตอร์ M.2 2280, M.2 22110 และ E1.S และพร้อมจำหน่ายในเกรดอุณหภูมิเชิงพาณิชย์ (อุณหภูมิการทำงาน: 0 ถึง 70°C) และเกรดอุณหภูมิอุตสาหกรรม (อุณหภูมิการทำงาน: -40 ถึง 85°C) รวมถึงการรองรับการป้องกันข้อมูลสูญเสียพลังงาน SafeDATA™ ด้วยเช่นกัน สามารถดูข้อมูลเพิ่มเติมได้ที่ เว็บไซต์ของ SMART

*รูปแบบตัวหนังสือ “S” และ “SMART” รวมถึง “SMART Modular Technologies” เป็นเครื่องหมายการค้าและ/หรือเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนของ SMART Modular Technologies, Inc. เครื่องหมายการค้าและเครื่องหมายการค้าจดทะเบียนอื่นๆ ทั้งหมดเป็นทรัพย์สินของเจ้าของที่เกี่ยวข้อง